通用型X-RAY设备_X-6100_X-RAY设备-瑞茂光学

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X-6100 通用版X-Ray自动检测系统

X-6100 通用版X-Ray自动检测系统

光管类型：空间分辨率：放大倍率：

X-6100 X-RAY检测领域广泛，通常应用于电子元器件的内部结构检测，常见气泡空洞率测量、电路短路断路、焊点缺焊少焊漏焊、内部存在异物裂缝等.....

详细信息

功能	CNC程序：自动批量检测样品不同位置
	阵列功能：自动批量检测位置固定、间距相同样品
	气泡测量：一键测量气泡大小、空洞率
	长度、宽度测量：测量部分检测区域长度、宽度
	可视化导航界面：检测位置精准定位
	模拟颜色：更好观察检测图像
优势	自动 ON/OFF X-RAY光管批量检测样
	搭配高稳定性高精度X射线光管
	高分辨率数字X-RAY平板
	载物台可容纳大量各种尺寸样
	允许60°倾斜观测

规格参数

Model:	X-6100
X-ray 光管类型	封闭式
空间分辩率	5um
光管电压	90KV
光管电流	200μA
放大倍率	200X
数字平板探测器分辩率	1280*1024px
数字平板探测器密度值	16bit (65536）
图像速度	30（FPS)
平板旋转角度	60 °
载物台尺寸	540*394mm
检测范围	510*370mm
机器尺寸	135018002100mm(LWH)
机器重量	870kg
操作系统	WINDOWS 10
电源/功率	AC110-220V 50-60HZ 1200W
辐射安全测试	<1 uSV/H

包装

IC WIRE	LED

BGA 锡球	BGA 气泡

X-6100 通用版X-Ray自动检测系统

X-6100 通用版X-Ray自动检测系统

X-6100 X-RAY检测领域广泛，通常应用于电子元器件的内部结构检测，常见气泡空洞率测量、电路短路断路、焊点缺焊少焊漏焊、内部存在异物裂缝等.....

X-7100 通用版X-Ray自动检测系统

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X-7900 进阶版X-Ray自动检测系统

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半导体X-RAY检测设备 X-7900可以检测半导体3um的缺陷、一键测量汽包大小及空洞率，并可以将缺陷几何放大400X，检测图像系统放大2500X。

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