半导体检测 X-RAY设备_X-X9200（VⅢ）

X-RAY设备

products

全部

X-RAY点料机

PCB行业检测设备

通用型X-RAY设备

压铸件检测设备

X-RAY设备配件

网站首页 X-RAY设备通用型X-RAY设备 X-RAY检查机 X-9200 V3.0

X-RAY检查机 X-9200 V3.0

X-RAY检查机 X-9200 V3.0

载物台：540*540mm 检测精度：3um 放大倍数：几何放大450，系统放大2000X 检测领域：主要用于SMT、LED、BGA、CSP倒装芯片检测，半导体、封装元器件等行业的检测。

半导体X-RAY检测设备X9200（VⅢ）第三代功能更优越更强大，可以将缺陷几何放大450X，检测图像系统放大2000X。

功能介绍

功能	CNC程序：自动批量检测样品不同位置
	阵列功能：自动批量检测位置固定、间距相同样品
	气泡测量：一键测量气泡大小、空洞率
	长度、宽度测量：测量部分检测区域长度、宽度
	可视化导航界面：检测位置精准定位
	模拟颜色：更好观察检测图像
优势	在线式自动 ON/OFF X-RAY光管批量检测样品
	搭配130KV滨松X-RAY光管，检测精度达3um
	高分辨率数字X-RAY平板，1536*1536px图像更清晰
	几何放大450x，系统放大2000x
	540*540mm载物台可容纳大量各种尺寸样品
	半自动的NG/OK产品检测
	允许60°倾斜观测

规格参数

Model:	X-9200 V3.0
X-ray 光管类型	封闭式
空间分辩率	3um
光管电压	130KV
光管电流	300uA
放大倍率	几何放大450，系统放大2000X
数字平板探测器分辩率	1536*1536 px
数字平板探测器密度值	14bit （16348）
图像速度	30（FPS)
平板旋转角度/傾斜度	60 °
载物台尺寸	540*540mm
载物台最大承重	10KG
X-Y 行程	1050*1250mm
检测范围	510*510mm
机器尺寸	111014202020 mm (LWH)
机器重量	1200KG
操作系统	WINDOWS7/ 10
电源/功率	AC110-220V 50-60HZ 1200W
辐射安全测试	<1 uSV/H

应用领域

手机数据线	手机充电头
电脑内存卡	PCB板
电容气泡测量	IC芯片金线
PCB盲孔	PCB板

涂层厚度分析仪 XF-3000

涂层厚度分析仪 XF-3000

XF-3000 涂层厚度分析仪是一款面向镀层、膜厚、涂层行业厚度无损检测的X射线荧光光谱仪，可广泛应用于涂层厚度产品质量的管理。该产品既可以分析各种金属涂层厚度以及成分分析，可同时分析基材和镀材的成分及厚度。

通用型X-RAY设备（标准机）_X-7100

通用型X-RAY设备（标准机）_X-7100

X-7100 X-RAY检测领域广泛，通常应用于电子元器件的内部结构检测，常见气泡空洞率测量、电路短路断路、焊点缺焊少焊漏焊、内部存在异物裂缝等.....

半导体检测X-RAY设备_X-7900

半导体检测X-RAY设备_X-7900

X-7900的精度为5um可以很好的检测出半导体内部相关问题，并可以几何放大400X、系统放大2500X。

188-2319-2896